快速溫變?cè)囼?yàn)箱也稱環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱，主要適用于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作耐寒試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及應(yīng)力篩選（ESS）試驗(yàn)，以便對(duì)試品在擬定環(huán)境條件下的性能、行為做出分析及評(píng)價(jià)；以避免該產(chǎn)品于使用過(guò)程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效，造成不必要的損失，對(duì)于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果；那快速溫變?cè)囼?yàn)箱在半導(dǎo)體行業(yè)是主要起到什么作用呢？一起來(lái)看看~
快速溫度循環(huán)(TEB)測(cè)試是讓IC零件經(jīng)受*溫和極低溫之間，來(lái)回溫度轉(zhuǎn)換的可靠度測(cè)試，進(jìn)行該測(cè)試時(shí)將IC零件重復(fù)暴露于這些條件下，經(jīng)過(guò)循環(huán)次數(shù)，過(guò)程被要求其升降溫的溫變速率(℃/min)，另外需確認(rèn)溫度是否有效滲透到測(cè)試品內(nèi)部；
本測(cè)試適用于受溫度影響的半導(dǎo)體元器件，過(guò)程中需要在高低溫差條件下，開啟或關(guān)閉測(cè)試電源，溫度循環(huán)還有電源測(cè)試，是確認(rèn)元器件的承受能力，目的是模擬實(shí)際會(huì)遇到的最差狀況；很多測(cè)試半導(dǎo)體芯片的用戶選擇快速溫變應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱的溫變速率為5度線性/10度線性，溫變范圍是是-45~85度的居多，您也可以作為參考喲~ 
|
會(huì)員_a.png)